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深圳市瑞凯显示技术有限公司始终专注LED全彩显示屏、LED交通诱导显示屏、LED智慧城市显示屏、LED户外显示屏模组的研发和生产,不断注重产品的品质与创新,为用户提供优质产品和专业服务,并在工程服务团队建设上花费更多精力和投入,确保工程施工进度和质量。

    阜阳测速牌厂

    更新时间:2020-09-06   浏览数:14
    所属行业:LED LED显示屏 室外显示屏
    发货地址:广东省深圳市南山区西丽街道留仙社区  
    产品规格:
    产品数量:9999.00个
    包装说明:
    单 价:500.00 元/个
    LED器材的理论寿数为10万小时,远大于LED显现屏其它部件的作业寿数,故只需LED器材质量确保、作业电流适宜、PCB散热规划合理、显现屏出产工艺谨慎,LED器材将是显现屏整机中经用的部件之一。
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    现有的COB封装,依旧选用正装芯片,需求固晶、焊线工艺,因而焊线环节问题较多且其工艺难度与焊盘面积成反比。
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    LED灯珠对LED显示屏的八方面影响
    1、视角
    LED显现屏的视角决议于LED灯珠的视角。现在野外显现屏大多选用水平视角100°;、笔直视角50°;的椭圆LED,户内显现屏则选用水平笔直均为120°;的贴片LED。高速公路上的显现屏因为其特殊性一般选用30°;视角的圆形LED就够了。一些高楼上的显现屏对笔直视角要求较高。视角与亮度互为对立,大视角必然会下降亮度。视角的挑选需求依据详细的用处来决议。
    2、亮度
    LED亮度是显现屏亮度的重要决议因素。LED亮度越高,运用电流的余量越大,对节约耗电、坚持LED安稳有优点。LED有不同的视点值,在芯片亮度已定的情况下,视点越小,LED则越亮,但显现屏的视角则越小。一般应挑选100度的LED以确保显现屏满足的视角。针对不同点间隔和不同视距的显现屏,应在亮度、视点和价格上找到一个平衡点。
    3、失功率
    因为全彩显现屏由上万乃至几十万组红、绿、蓝三种LED组成的像素点组成,任一色彩LED的失效均会影响显现屏全体视觉作用。一般来说,按职业经历,在LED显现屏开端安装至老化72小时出货前的失功率应不高于万分之三(指LED灯珠自身原因引起的失效)。
    4、抗静电才能
    LED是半导体器材,对静电灵敏,极易引致静电失效,故抗静电才能对显现屏的寿数至关重要。一般来说,LED的人体静电形式测验失效电压不该低于2000V。
    5、寿数
    LED器材的理论寿数为10万小时,远大于LED显现屏其它部件的作业寿数,故只需LED器材质量确保、作业电流适宜、PCB散热规划合理、显现屏出产工艺谨慎,LED器材将是显现屏整机中经用的部件之一。
    LED器材占LED显现屏价格比重的70%,所以说LED器材可以决议LED显现屏质量的好坏。我国便是LED器材的出产大国,也是LED显现屏制做的聚集地。LED显现屏的高技术要求是未来的开展趋势,LED显现屏的高质量要求,不仅仅关于LED显现屏厂商的走向,也牵连的LED显屏器材厂家的开展。从LED器材把关,促进我国由LED显现屏制作大国向LED显现屏制作强国的改变。
    6、衰减特性
    性可用LED视点归纳测验仪测出,关于中、显现屏尤为重要。
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    失效样品是是仿流明LED灯珠,该LED灯珠运用一段时间后呈现死灯。对多个失效灯珠溶胶后进行查看,均发现失效灯珠芯片2个P电极金线焊点和邻近的电极图形线路现已焚毁,2个N电极金线焊点、电极图形线路和支架上的4个第二焊点均坚持无缺,未发现有焚毁或开裂的状况,如下图15和图16所示。
    很明显,芯片P电极焚毁是形成灯珠死灯的直接原因。那么,是什么原因导致芯片P电极焚毁的呢?接下来,咱们做了如下剖析。
    咱们随机选取了几颗能够正常点亮的灯珠样品进行模仿高电压冲击实验,对每颗灯珠独自施加20V瞬间高电压。实验成果显现,高电压冲击后灯珠瞬间呈现死灯,溶胶后查看发现也是芯片上的P电极线路焚毁导致开路死灯,如图17和图18所示。
    经过上述的查看和验证实验,能够揣度形成客户这批灯珠死灯的底子原因是灯珠运用进程中突波电流过大,因芯片P区的电阻值较N区高,当电流会集经过P电极,P电极早焚毁并导致开路死灯。
    灯珠运用进程中呈现突波电流(或电压)过大,很或许与灯具驱动电源在发动或封闭时的突波电流有关,也有或许是芯片P电极打线有瑕疵,导致P电极焊点呈现瞬间接触不良状况,当有多颗LED串联时会累积高压在接触不良接点上引起瞬间高电流形成灯珠焊线焚毁及封胶烧黑。
    前面的死灯事例都是呈开路现象,下面为咱们举个短路死灯现象的事例。
    失效样品为仿流明灯珠,灯珠老化进程中发现这些灯珠呈现死灯、暗光等不良状况。对不良品进行溶胶后,查看发现芯片电极较多区域呈现受腐蚀和电极掉落的状况,如图21和图22所示。
    运用X射线能谱仪(EDS)对芯片受腐蚀区域进行元素剖析,检测发现芯片电极受腐蚀区域含有较多的Na、Cl和K元素,如图23和图24所示。
    依据元素的化学组成,估测芯片或许遭到NaCl和KCl污染。当热与水汽共存时会腐蚀芯片电极,形成芯片电极金属腐蚀及电极线路粘接力下降,乃至导致部分区域掉落。而电极溶解物的搬迁会使芯片P、N电极短路导致芯片死灯。
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